IRIS

Sfoglia per Autore  

Opzioni
Mostrati risultati da 21 a 40 di 171
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Electrical and Thermal Simulation of Local Effects for Electromigration 1-gen-1997 M., Borgarino; V., Petrescu; L., Brizzolara; DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini
A comparison between normally and highly accelerated electromigration tests 1-gen-1998 S., Foley; A., Scorzoni; R., Balboni; M., Impronta; DE MUNARI, Ilaria; A., Mathewson; F., Fantini
Electromigration Testing of Integrated Circuit Interconnections 1-gen-1998 F., Fantini; J. R., Lloyd; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni
Early Detection of the Metallization Quality Using Moderately Accelerated Electromigration Stress Conditions 1-gen-1998 A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; R., Balboni; N., Kelaidis; S., Foley; M., Forde
A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration 1-gen-1999 C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni
Early Electromigration Effects and Early Resistance Changes 1-gen-1999 A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; N., Kelaidis
A Study of the Thermal Behavior of Different Test Patterns Used in Differential High Resolution Electromigration Measurements 1-gen-1999 N., Kelaidis; A., Scorzoni; M., Impronta; DE MUNARI, Ilaria
Additional Microstructural Analysis on the Samples Examined in the Paper ‘Are High Resolution Resistometric Methods Really Useful for the Early Detection of Electromigration Damage?' 1-gen-1999 R., Balboni; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; A., Scorzoni
A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines 1-gen-1999 A., Scorzoni; M., Impronta; DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini
A Percolative Approach to Electromigration Modelling 1-gen-2000 C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria
Evaluation of the Thermal Resistance of Al-Cu Electromigration Test Structures 1-gen-2000 A., Braghieri; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; A., Scorzoni
A Percolative Simulation of Electromigration Phenomena 1-gen-2001 C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni
Investigation of the Role of Compositional Effects in Electromigration Damage of Metallic Interconnects 1-gen-2001 C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria
A Percolative Approach to Electromigration in Metallic Lines 1-gen-2001 C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria
A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines 1-gen-2002 C., Caprile; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; S., Podda; A., Scorzoni; M., Vanzi
Passive optical components: from degradation data to reliability assessment – preliminary results 1-gen-2002 T., Tomasi; DE MUNARI, Ilaria; V., Lista; L., Gherardi; A., Righetti; M., Villa
Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines 1-gen-2003 E., Alfinito; C., Pennetta; L., Reggiani; Fantini, Fausto; DE MUNARI, Ilaria; Scorzoni, Andrea
Effect of Gate-Currents on CMOS Circuit Behaviour 1-gen-2003 A., Marras; DE MUNARI, Ilaria; D., Vescovi; Ciampolini, Paolo
Performance Evaluation of Ultrathin Gate-oxide CMOS Circuits 1-gen-2003 A., Marras; DE MUNARI, Ilaria; D., Vescovi; Ciampolini, Paolo
Passive optical components: from degradation data to reliability assessment 1-gen-2003 Tiziana, Tomasi; Valeria, Lista; Marco, Villa; DE MUNARI, Ilaria
Mostrati risultati da 21 a 40 di 171
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile