A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration / C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 6-7:(1999), pp. 857-862. [10.1016/S0026-2714(99)00113-4]

A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration

DE MUNARI, Ilaria;
1999-01-01

1999
A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration / C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 6-7:(1999), pp. 857-862. [10.1016/S0026-2714(99)00113-4]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1509301
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 5
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact