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A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration / C., P., L., R., Trefan, G.Y., F., F., DE MUNARI, I., A., S.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 6-7:(1999), pp. 857-862. [10.1016/S0026-2714(99)00113-4]

A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration

DE MUNARI, Ilaria;
1999-01-01
1999
A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration / C., P., L., R., Trefan, G.Y., F., F., DE MUNARI, I., A., S.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 6-7:(1999), pp. 857-862. [10.1016/S0026-2714(99)00113-4]
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