A Stochastic Approach to Failure Analysis in Electromigration / C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 6-7:(1999), pp. 857-862. [10.1016/S0026-2714(99)00113-4]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.