A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines / A., Scorzoni; M., Impronta; DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39. No. 5:(1999), pp. 615-626. [10.1016/S0026-2714(99)00043-8]
A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines
DE MUNARI, Ilaria;
1999-01-01
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