A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines / A. SCORZONI; M. IMPRONTA; I. DE MUNARI; F. FANTINI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39. No. 5(1999), pp. 615-626. [10.1016/S0026-2714(99)00043-8]

A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines

DE MUNARI, Ilaria;
1999

A Proposal for a Standard Procedure for Moderately Accelerated Electromigration Tests on Metal Lines / A. SCORZONI; M. IMPRONTA; I. DE MUNARI; F. FANTINI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39. No. 5(1999), pp. 615-626. [10.1016/S0026-2714(99)00043-8]
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