Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines / E., Alfinito; C., Pennetta; L., Reggiani; Fantini, Fausto; DE MUNARI, Ilaria; Scorzoni, Andrea. - (2003), pp. 758-762. (Intervento presentato al convegno 17-th International Conf. on Noise and Fluctuations tenutosi a Praga, Repubblica Ceca nel 18-23 August).
Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines
FANTINI, Fausto;DE MUNARI, Ilaria;SCORZONI, ANDREA
2003-01-01
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