Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines / E., A., C., P., L., R., Fantini, F., DE MUNARI, I., Scorzoni, A.. - (2003), pp. 758-762. (17-th International Conf. on Noise and Fluctuations Praga, Repubblica Ceca 18-23 August).
Simulation of Electromigration Phenomena and Associated Resistance Noise in Al-Cu Metallic Lines
FANTINI, Fausto;DE MUNARI, Ilaria;SCORZONI, ANDREA
2003-01-01
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