Electromigration Testing of Integrated Circuit Interconnections / F., Fantini; J. R., Lloyd; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 40, No. 3-4:(1998), pp. 207-221. [10.1016/S0167-9317(98)00272-X]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.