Electromigration Testing of Integrated Circuit Interconnections / F., Fantini; J. R., Lloyd; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 40, No. 3-4:(1998), pp. 207-221. [10.1016/S0167-9317(98)00272-X]

Electromigration Testing of Integrated Circuit Interconnections

DE MUNARI, Ilaria;
1998-01-01

1998
Electromigration Testing of Integrated Circuit Interconnections / F., Fantini; J. R., Lloyd; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 40, No. 3-4:(1998), pp. 207-221. [10.1016/S0167-9317(98)00272-X]
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