Early Electromigration Effects and Early Resistance Changes / A., Scorzoni; DE MUNARI, Ilaria; M., Impronta; N., Kelaidis. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 11:(1999), pp. 1647-1656. [10.1016/S0026-2714(99)00170-5]
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