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Early Electromigration Effects and Early Resistance Changes / A., S., DE MUNARI, I., M., I., N., K.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 11:(1999), pp. 1647-1656. [10.1016/S0026-2714(99)00170-5]

Early Electromigration Effects and Early Resistance Changes

DE MUNARI, Ilaria;
1999-01-01
1999
Early Electromigration Effects and Early Resistance Changes / A., S., DE MUNARI, I., M., I., N., K.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39, No. 11:(1999), pp. 1647-1656. [10.1016/S0026-2714(99)00170-5]
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