Electrical and Thermal Simulation of Local Effects for Electromigration / M., B., V., P., L., B., DE MUNARI, I., F., F.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 12, No. 11:(1997), pp. 1369-1377. [10.1088/0268-1242/12/11/008]
Electrical and Thermal Simulation of Local Effects for Electromigration
DE MUNARI, Ilaria;
1997-01-01
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