A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines / C. CAPRILE; I. DE MUNARI; M. IMPRONTA; S. PODDA; A. SCORZONI; M. VANZI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42, No. 9-11(2002), pp. 1715-1718. [10.1016/S0026-2714(02)00218-4]

A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines

DE MUNARI, Ilaria;
2002

A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines / C. CAPRILE; I. DE MUNARI; M. IMPRONTA; S. PODDA; A. SCORZONI; M. VANZI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42, No. 9-11(2002), pp. 1715-1718. [10.1016/S0026-2714(02)00218-4]
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