A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines / C., C., DE MUNARI, I., M., I., S., P., A., S., M., V.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42, No. 9-11:(2002), pp. 1715-1718. [10.1016/S0026-2714(02)00218-4]
A Specimen-Current Branching Approach for FA of Long Electromigration Test Lines
DE MUNARI, Ilaria;
2002-01-01
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