A Percolative Simulation of Electromigration Phenomena / C., Pennetta; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; F., Fantini; DE MUNARI, Ilaria; A., Scorzoni. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 55, No. 1-4:(2001), pp. 349-353. [10.1016/S0167-9317(00)00467-6]
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