IRIS

A Percolative Simulation of Electromigration Phenomena / C., P., L., R., Trefan, G.Y., F., F., DE MUNARI, I., A., S.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 55, No. 1-4:(2001), pp. 349-353. [10.1016/S0167-9317(00)00467-6]

A Percolative Simulation of Electromigration Phenomena

DE MUNARI, Ilaria;
2001-01-01
2001
A Percolative Simulation of Electromigration Phenomena / C., P., L., R., Trefan, G.Y., F., F., DE MUNARI, I., A., S.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 55, No. 1-4:(2001), pp. 349-353. [10.1016/S0167-9317(00)00467-6]
1.1 Articolo su rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1509298
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact