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L'affidabilità nei laser di pompa a 980 nm InGaAs/GaAs per amplificatori in fibra drogata con Erbio
1993-01-01 Cova, Paolo
Caratterizzazione della temperatura caratteristica nei laser di pompa a 980 nm InGaAs/GaAs per amplificatori in fibra drogata con Erbio
1993-01-01 Cova, Paolo
Very high temperature test of InP-based laser diodes
1993-01-01 M., Tesauri; Chiorboli, Giovanni; Cova, Paolo; F., Fantini; F., Magistrali; D., Sala
Test di elettromigrazione su strisce di tipo bamboo: limiti delle strutture di test progettate secondo le regole NIST
1993-01-01 DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini; Cova, Paolo; A., Scorzoni; G. L., Baldini
Experimental application of a novel technique to extract gate bias dependentsource and drain parasitic resistances of GaAs MESFETs
1993-01-01 Menozzi, Roberto; Cova, Paolo; Selmi, L.
Light emission spectra of commercial pseudomorphic HEMTs biased in the impact ionization regime
1994-01-01 Cova, Paolo; Chioato, E; Conti, P; Dallaglio, S; Fantini, F; Manfredi, M; Menozzi, Roberto; Necchi, R.
Light emission in commercial pseudomorphic HEMTs
1994-01-01 Menozzi, Roberto; Cova, Paolo; Dallaglio, S; Manfredi, M; Conti, P; Fantini, F.
Tecnologia e affidabilità dei semiconduttori composti
1995-01-01 F., Fantini; S., Franchi; Cova, Paolo
Reliability of compound semiconductor devices and integrated circuits
1995-01-01 F., Fantini; Cova, Paolo; S., Franchi
Caratterizzazione di HEMT pseudomorfici in condizioni di ionizzazione da impatto e stress da hot-electron
1995-01-01 Cova, Paolo; Fantini, F; Manfredi, M; Menozzi, Roberto
Band to band recombination peak in the light emission of commercial pseudomorphic HEMTs
1995-01-01 Menozzi, Roberto; Cova, Paolo; A., Pisano; F., Fantini; Pavesi, Maura; AND P., Conti
Misure di rumore in bassa frequenza su HEMT pseudomorfici
1995-01-01 Cova, Paolo
Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons
1995-01-01 Canali, C; Cova, Paolo; DE BORTOLI, E; Fantini, F; Meneghesso, G; Menozzi, Roberto; Zanoni, E.
Hot electron degradation in pseudomorphic HEMTs
1995-01-01 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Fantini, F.
On the temperature and hot electron induced degradation on AlGaAs/InGaAs PM-HEMTs
1995-01-01 Meneghesso, G; DE BORTOLI, E; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto
Hot electron degradation effects in Al0.25Ga0.75As/In0.2Ga0.8As PHEMTs
1995-01-01 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Lacey, D; Bayens, Y; Fantini, F.
Caratterizzazione ed affidabilità di dispositivi elettronici ed optoelettronici a semiconduttori composti
1996-01-01 Cova, Paolo
Caratterizzazione dell'affidabilità di laser per telecomunicazioni a 980 e 1300 nm mediante analisi delle caratteristiche elettriche e dello spettro di emissione sotto soglia
1996-01-01 Cova, Paolo
Degrado da elettroni caldi nelle caratteristiche DC e RF di HEMT su GaAs e InP
1996-01-01 Menozzi, Roberto; M., Borgarino; Cova, Paolo; F., Fantini
Low frequency noise and pulse response of GaAs PHEMTs submitted to hot electron stress
1996-01-01 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Boselli, G; Fantini, F; Saysset, N; Labat, N; Touboul, A; Danto, Y.
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