DC and RF instability of GaAs-based PHEMTs due to hot electrons / Menozzi, R., Borgarino, M., Cova, P., Baeyens, Y., Pavesi, M., Fantini, F.. - (1996), pp. 18-21. (1996 GaAs Reliability Workshop Orlando, Florida (USA) Nov. 3, 1996).
DC and RF instability of GaAs-based PHEMTs due to hot electrons
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo;PAVESI, Maura;
1996-01-01
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