Caratterizzazione di HEMT pseudomorfici in condizioni di ionizzazione da impatto e stress da hot-electron / Cova, Paolo; Fantini, F; Manfredi, M; Menozzi, Roberto. - (1995), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno ELETTRONICA 95, XXVII Riunione Annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Riva del Garda (TN), Italy nel Jun. 18-21, 1995).
Caratterizzazione di HEMT pseudomorfici in condizioni di ionizzazione da impatto e stress da hot-electron
COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto
1995-01-01
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