Degrado da elettroni caldi nelle caratteristiche DC e RF di HEMT su GaAs e InP / Menozzi, Roberto; M., Borgarino; Cova, Paolo; F., Fantini. - (1996). (Intervento presentato al convegno XXVIII Riunione annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Sestri Levante, GE (Italy) nel 19-22 giugno 1996).
Degrado da elettroni caldi nelle caratteristiche DC e RF di HEMT su GaAs e InP
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo;
1996-01-01
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