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On the temperature and hot electron induced degradation on AlGaAs/InGaAs PM-HEMTs / Meneghesso, G; DE BORTOLI, E; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto. - 95TH8057:(1995), pp. 136-141. (Intervento presentato al convegno 3rd IEEE Int. W. High Performace Electron Dev.for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO’95) tenutosi a Londra, (UK) nel Nov. 27, 2005) [10.1109/EDMO.1995.493709].

On the temperature and hot electron induced degradation on AlGaAs/InGaAs PM-HEMTs

COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto
1995-01-01
1995
On the temperature and hot electron induced degradation on AlGaAs/InGaAs PM-HEMTs / Meneghesso, G; DE BORTOLI, E; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto. - 95TH8057:(1995), pp. 136-141. (Intervento presentato al convegno 3rd IEEE Int. W. High Performace Electron Dev.for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO’95) tenutosi a Londra, (UK) nel Nov. 27, 2005) [10.1109/EDMO.1995.493709].
4.1b Atto convegno Volume
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