Experimental application of a novel technique to extract gate bias dependentsource and drain parasitic resistances of GaAs MESFETs / Menozzi, Roberto; Cova, Paolo; Selmi, L.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 36:(1993), pp. 1083-1084. [10.1016/0038-1101(93)90127-C]
Experimental application of a novel technique to extract gate bias dependentsource and drain parasitic resistances of GaAs MESFETs
MENOZZI, Roberto;COVA, Paolo;
1993-01-01
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