Test di elettromigrazione su strisce di tipo bamboo: limiti delle strutture di test progettate secondo le regole NIST / DE MUNARI, Ilaria; F., Fantini; Cova, Paolo; A., Scorzoni; G. L., Baldini. - (1993). (Intervento presentato al convegno XXV Riunione Annuale CCTE tenutosi a Venezia (Italy) nel 20-23 giugno 1993).
Test di elettromigrazione su strisce di tipo bamboo: limiti delle strutture di test progettate secondo le regole NIST
DE MUNARI, Ilaria;COVA, Paolo;
1993-01-01
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