Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons / Canali, C., Cova, P., DE BORTOLI, E., Fantini, F., Meneghesso, G., Menozzi, R., Zanoni, E.. - 95CH3471-0:(1995), pp. 205-210. (International Reliability Physics Symposium (IRPS’95) Las Vegas, Nevada (USA) Apr. 4-6, 1995).
Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons
COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto;
1995-01-01
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