doi: 10.1109/EDMO.1995.493702
Hot electron degradation effects in Al0.25Ga0.75As/In0.2Ga0.8As PHEMTs / Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Lacey, D; Bayens, Y; Fantini, F.. - 95TH8057:(1995), pp. 98-103. (Intervento presentato al convegno 3rd IEEE Int. W. on High Performace Electron Dev. for Microwave and Optoelectronic Appl. (EDMO'95) tenutosi a Londra, (UK) nel Nov. 27, 2005).
Hot electron degradation effects in Al0.25Ga0.75As/In0.2Ga0.8As PHEMTs
COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto;
1995-01-01
Abstract
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