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Analisi macro/micro termostrutturale di dispositivi elettronici di potenza 1-gen-1998 Nicoletto, Gianni; Pirondi, Alessandro; Cova, Paolo; Pasqualetti, M; Zani, P. E.
On the effect of power cycling stress on IGBT modules 1-gen-1998 Cova, Paolo; Fantini, F.
Correlation between light emission and currents in pseudomorphic HEMTs 1-gen-1998 Cova, Paolo; Fantini, F; Manfredi, M.
Hot electron degradation of the DC and RF characteristics of AlGaAs/InGaAs/GaAs PHEMTs 1-gen-1998 Borgarino, M; Menozzi, Roberto; Baeyens, Y; Cova, Paolo; Fantini, F.
Reliability issues in compound semiconductor eterojunction devices 1-gen-1998 Fantini, F; Borgarino, M; Cattani, L; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Salviati, G; Canali, C; Meneghesso, G; Zanoni, E.
On the correlation between drain and gate currents and light emission in GaAs – PHEMTs biased in the impact ionization regime 1-gen-1998 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Pavesi, Maura; S., Pavesi; M., Manfredi; AND F., Fantini
Thermo-mechanical simulation of a multichip press-packed IGBT 1-gen-1998 Pirondi, Alessandro; Nicoletto, Gianni; Cova, Paolo; M., Pasqualetti; M., Portesine; P. E., Zani
Thermo-mechanical simulation of a multichip press-packed IGBT 1-gen-1998 Pirondi, Alessandro; Nicoletto, Gianni; Cova, Paolo; Pasqualetti, M; Portesine, M; Zani, P. E.
Study of degradation mechanisms in compound semiconductor based devices by SEM-cathodoluminescence 1-gen-1998 Salviati, G; ZANOTTI FREGONARA, C; Borgarino, M; Lazzarini, L; Cattani, L; Cova, Paolo; Mazzer, M.
Degradation of Be-doped AlGaAs/GaAs HBTs 1-gen-1998 Cattani, L; Borgarino, M; Fantini, F; Cova, P; Menozzi, R
Misura dell'impedenza termica in moduli di potenza a IGBT 1-gen-1998 Dieci, D; Cova, Paolo; Fantini, F.
Three-terminal off-state breakdown in AlGaAs/GaAs power HFETs: a temperature-dependent analysis of the gate reverse current 1-gen-1999 D., Dieci; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; C., Lanzieri; G., Meneghesso; C., Canali
Off-State Breakdown in GaAs Power HFETs 1-gen-1999 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; D., Dieci; C., Canali; Pavesi, Maura; G., Meneghesso
Cathodoluminescence from hot electron stressed InP HEMTs 1-gen-1999 Cova, Paolo; G., Meneghesso; G., Salviati; E., Zanoni
Power cycling on press-pack IGBTs: measurements and thermomechanical simulation 1-gen-1999 Cova, Paolo; Nicoletto, Gianni; Pirondi, Alessandro; M., Portesine; M., Pasqualetti
Lifetime extrapolation for IGBT modules under realistic operation conditions 1-gen-1999 M., Ciappa; Cova, Paolo; L., Cattani; F., Fantini; W., Fichtner
Accelerated life testing and thermo-mechanical simulation in power electronic device development 1-gen-1999 Nicoletto, Gianni; Pirondi, Alessandro; Cova, Paolo
FE-Modeling and Physical Testing of IGBTs for Press-Packaging 1-gen-1999 Pirondi, Alessandro; Nicoletto, Gianni; Cova, Paolo; M., Pasqualetti; M., Portesine; P. E., Zani; A., Camera
Anomalous overvoltage oscillations in the reverse recovery of power p-i-n diodes: experiments and simulations 1-gen-1999 Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; M., Pasqualetti; M., Portesine; R., Scicolone; B., Zerbinati
Tecniche di processo di semiconduttori 1-gen-2000 Cova, Paolo
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