Reliability issues in compound semiconductor eterojunction devices / Fantini, F; Borgarino, M; Cattani, L; Cova, Paolo; Menozzi, Roberto; Salviati, G; Canali, C; Meneghesso, G; Zanoni, E.. - no. 162: Chapter 1:(1998), pp. 21-30. (Intervento presentato al convegno 25th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS’98) tenutosi a Nara (Japan) nel Oct. 12-16, 1998).
Reliability issues in compound semiconductor eterojunction devices
COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto;
1998-01-01
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