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Influence of guiding testability measure on number of backtracksof ATPG program 1-gen-1989 Chiorboli, Giovanni; A., Ferrari
Restoration of short voltage glitches by deconvolution for the diagnosis of IC failures using EBT 1-gen-1990 Chiorboli, Giovanni; Morandi, Carlo
Signal and distortion in EBT waveform measurements 1-gen-1991 Chiorboli, Giovanni; Morandi, Carlo
Measuring the impulse response of an EBT system 1-gen-1991 Chiorboli, Giovanni; D., Devenuto; S., Martino
Measuring rotation in SEM images of integrated circuits 1-gen-1991 Chiorboli, Giovanni; G., Demaldè; Morandi, Carlo
Preparation and characterization of lead zirconate titanate thin films by sol gel techniques: effect of heat treatment 1-gen-1992 F., Leccabue; B. E., Watts; A., Motta; E., Melioli; Morandi, Carlo; F., Fantini; Chiorboli, Giovanni; G., Franco
Experiments on monoplane camera calibration accuracy 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; Morandi, Carlo; M., Vascotto
Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; Fantini, Fausto; M., Tesauri; M. C., Ronchini; F., Magistrali; D., Sala; Vanzi, Massimo
I.C. testing: problems and trends 1-gen-1992 Morandi, Carlo; Chiorboli, Giovanni
Electrical characterization for failure analysis of DHBC InGaAsP/InP laser diodes 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; M., Vanzi; M. C., Ronchini; F., Fantini
Measuring rotation in SEM images of integrated circuits 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; G., Demaldè; Morandi, Carlo
Signal and distortion in EBT waveform measurements 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; Morandi, Carlo
Measuring the impulse response of an EBT system 1-gen-1992 Chiorboli, Giovanni; D., Devenuto; S., Martino
Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement 1-gen-1993 F., Corsi; Chiorboli, Giovanni; D., De Venuto; Morandi, Carlo; G. V., Portacci
Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement 1-gen-1993 F., Corsi; Chiorboli, Giovanni; D., De Venuto; Morandi, Carlo; G. V., Portacci
Fatigue behaviour of ferroelectric thin films for non-volatile memories 1-gen-1993 Chiorboli, Giovanni; F., Mori; F., Leccabue; B. E., Watts
Very high temperature test of InP-based laser diodes 1-gen-1993 M., Tesauri; Chiorboli, Giovanni; Cova, Paolo; F., Fantini; F., Magistrali; D., Sala
In-situ diagnostics of pulsed laser ablation deposition of ferroelectric Pb(Ti0.48Zr0.52)O3 on Si 1-gen-1993 A., Iembo; F., Fuso; M., Allegrini; E., Arimondo; V., Berardi; N., Spinelli; F., Leccabue; B. E., Watts; G., Franco; Chiorboli, Giovanni
Comments on Design of Fiducials for Accurate RegistrationUsing Machine Vision 1-gen-1993 Chiorboli, Giovanni; G. P., Vecchi
A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers 1-gen-1993 L., Allodi; Chiorboli, Giovanni; G., Franco; Morandi, Carlo; F., Venturi
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