Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement / F., Corsi; Chiorboli, Giovanni; D., De Venuto; Morandi, Carlo; G. V., Portacci. - (1993), pp. 4.12-4.15. (Intervento presentato al convegno 4th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electron Devices EOBT93 tenutosi a Zurich nel September 1 - 3 1993).

Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement

CHIORBOLI, Giovanni;MORANDI, Carlo;
1993-01-01

1993
Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement / F., Corsi; Chiorboli, Giovanni; D., De Venuto; Morandi, Carlo; G. V., Portacci. - (1993), pp. 4.12-4.15. (Intervento presentato al convegno 4th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electron Devices EOBT93 tenutosi a Zurich nel September 1 - 3 1993).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/2434755
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact