Measuring rotation in SEM images of integrated circuits / Chiorboli, Giovanni; G., Demaldè; Morandi, Carlo. - 1:(1991), pp. 324-331. (Intervento presentato al convegno 3rd European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits - EOBT'91 tenutosi a Villa Olmo, Como, Italy nel September 9-11. 1991).
Measuring rotation in SEM images of integrated circuits
CHIORBOLI, Giovanni;MORANDI, Carlo
1991-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.