Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes / Chiorboli, Giovanni; Fantini, Fausto; M., Tesauri; M. C., Ronchini; F., Magistrali; D., Sala; Vanzi, Massimo. - 1:(1992), pp. 253-258. (Intervento presentato al convegno 18th International Symposium for Testing and Failure Analysis tenutosi a Los Angeles, California nel 19-23 October 1992).

Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes

CHIORBOLI, Giovanni;FANTINI, Fausto;VANZI, Massimo
1992-01-01

1992
0871704560
Interpretation of life test results on DHBC InGaAs/InP laser diodes / Chiorboli, Giovanni; Fantini, Fausto; M., Tesauri; M. C., Ronchini; F., Magistrali; D., Sala; Vanzi, Massimo. - 1:(1992), pp. 253-258. (Intervento presentato al convegno 18th International Symposium for Testing and Failure Analysis tenutosi a Los Angeles, California nel 19-23 October 1992).
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