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EnglishA test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers / L. Allodi; G. Chiorboli; G. Franco; C. Morandi; F. Venturi. - 6(1993), pp. 223-226. ((Intervento presentato al convegno IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 1993 tenutosi a Sitges (Barcelona), Spain nel March 23-25 1993.
| Titolo: | A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 1993 | |
| Citazione: | A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers / L. Allodi; G. Chiorboli; G. Franco; C. Morandi; F. Venturi. - 6(1993), pp. 223-226. ((Intervento presentato al convegno IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 1993 tenutosi a Sitges (Barcelona), Spain nel March 23-25 1993. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11381/2434745 | |
| ISBN: | 0780308573 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1b Atto convegno Volume |
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http://hdl.handle.net/11381/2434745
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