A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers / L., A., Chiorboli, G., G., F., Morandi, C., F., V.. - 6:(1993), pp. 223-226. (IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 1993 Sitges (Barcelona), Spain March 23-25 1993).
A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers
CHIORBOLI, Giovanni;MORANDI, Carlo;
1993-01-01
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