A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers / L., Allodi; Chiorboli, Giovanni; G., Franco; Morandi, Carlo; F., Venturi. - 6:(1993), pp. 223-226. (Intervento presentato al convegno IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 1993 tenutosi a Sitges (Barcelona), Spain nel March 23-25 1993).
A test structure for transferring timing setup between digital I.C. testers
CHIORBOLI, Giovanni;MORANDI, Carlo;
1993-01-01
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