Electrical characterization for failure analysis of DHBC InGaAsP/InP laser diodes / Chiorboli, Giovanni; M., Vanzi; M. C., Ronchini; F., Fantini. - 1:(1992), pp. 237-240. (Intervento presentato al convegno 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 92 tenutosi a Schwabisch Gmund, Germany nel 5-8 October 1992).

Electrical characterization for failure analysis of DHBC InGaAsP/InP laser diodes

CHIORBOLI, Giovanni;
1992-01-01

1992
Electrical characterization for failure analysis of DHBC InGaAsP/InP laser diodes / Chiorboli, Giovanni; M., Vanzi; M. C., Ronchini; F., Fantini. - 1:(1992), pp. 237-240. (Intervento presentato al convegno 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 92 tenutosi a Schwabisch Gmund, Germany nel 5-8 October 1992).
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