Electrical characterization of a buried GaSb p-n junction controlled by native defects / Gorni, Marco; Parisini, Antonella; Gombia, Enos; Baldini, M; Vantaggio, Salvatore; Ghezzi, Carlo. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 1521-4079. - 49:8(2014), pp. 628-633. [10.1002/crat.201300411]

Electrical characterization of a buried GaSb p-n junction controlled by native defects

GORNI, Marco;PARISINI, Antonella;GOMBIA, Enos;VANTAGGIO, Salvatore;GHEZZI, Carlo
2014-01-01

Electrical characterization of a buried GaSb p-n junction controlled by native defects / Gorni, Marco; Parisini, Antonella; Gombia, Enos; Baldini, M; Vantaggio, Salvatore; Ghezzi, Carlo. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 1521-4079. - 49:8(2014), pp. 628-633. [10.1002/crat.201300411]
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