Electrical characterization of GaSb buried p-n junctions / M., B., E., G., Parisini, A., Tarricone, L., Ghezzi, C., C., F., A., G.. - (2012), pp. 239-242. (The Ninth International Conference on Advanced Semiconductors Devices and Microsystems Smolenice Castle, Slovakia 11-15 novembre 2012).
Electrical characterization of GaSb buried p-n junctions
PARISINI, Antonella;TARRICONE, Luciano;GHEZZI, Carlo;
2012-01-01
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