Empirical investigation on device-degradation indicators under nonlinear dynamic regime / A., R., S., D.F., Sozzi, G., Menozzi, R., D. M. M. P., S., G., V.. - (2010), pp. 201-212. (Reliability of Compound Semiconductors Workshop Portland, OR (USA) May 17, 2010).
Empirical investigation on device-degradation indicators under nonlinear dynamic regime
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
2010-01-01
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