Empirical investigation on device-degradation indicators under nonlinear dynamic regime / A., Raffo; S., Di Falco; Sozzi, Giovanna; Menozzi, Roberto; D. M. M. P., Schreurs; G., Vannini. - (2010), pp. 201-212. (Intervento presentato al convegno Reliability of Compound Semiconductors Workshop tenutosi a Portland, OR (USA) nel May 17, 2010).
Empirical investigation on device-degradation indicators under nonlinear dynamic regime
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
2010-01-01
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