Compact modeling of GaN HEMTs including temperature- and trap-related dispersive effects / D., Mari; Bernardoni, Mirko; Sozzi, Giovanna; Menozzi, Roberto; G. A., Umana Membreno; B. D., Nener. - (2010), pp. 111-123. (Intervento presentato al convegno Reliability of Compound Semiconductors Workshop tenutosi a Portland, OR (USA) nel May 17, 2010).
Compact modeling of GaN HEMTs including temperature- and trap-related dispersive effects
BERNARDONI, Mirko;SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
2010-01-01
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