Breakdown and degradation issues and the choice of a safe load line for power HFET operation / D. Dieci; R. Menozzi; T. Tomasi; G. Sozzi; C. Lanzieri; C. Canali. - (2000), pp. 258-263. ((Intervento presentato al convegno 2000 IEEE Int. Reliability Phys. Symp. tenutosi a San Jose, CA (USA) nel 10-13 April 2000.

Breakdown and degradation issues and the choice of a safe load line for power HFET operation

MENOZZI, Roberto;SOZZI, Giovanna;
2000

9780780358607
Breakdown and degradation issues and the choice of a safe load line for power HFET operation / D. Dieci; R. Menozzi; T. Tomasi; G. Sozzi; C. Lanzieri; C. Canali. - (2000), pp. 258-263. ((Intervento presentato al convegno 2000 IEEE Int. Reliability Phys. Symp. tenutosi a San Jose, CA (USA) nel 10-13 April 2000.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11381/2300689
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 10
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact