Breakdown and degradation issues and the choice of a safe load line for power HFET operation / D., Dieci; Menozzi, Roberto; T., Tomasi; Sozzi, Giovanna; C., Lanzieri; C., Canali. - (2000), pp. 258-263. (Intervento presentato al convegno 2000 IEEE Int. Reliability Phys. Symp. tenutosi a San Jose, CA (USA) nel 10-13 April 2000).
Breakdown and degradation issues and the choice of a safe load line for power HFET operation
MENOZZI, Roberto;SOZZI, Giovanna;
2000-01-01
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