Comprehensive experimental and numerical assessment of hot electron reliability of power HFETs / Menozzi, R., Sozzi, G., G., V., M., B., C., C., C., L.. - (2001), pp. 59-62. (11th European Heterostructure Technology Workshop (HETECH 2001) Padova (Italia) 28-30 Oct. 2001).
Comprehensive experimental and numerical assessment of hot electron reliability of power HFETs
MENOZZI, Roberto;SOZZI, Giovanna;
2001-01-01
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