Comprehensive experimental and numerical assessment of hot electron reliability of power HFETs / Menozzi, Roberto; Sozzi, Giovanna; G., Verzellesi; M., Borgarino; C., Canali; C., Lanzieri. - (2001), pp. 59-62. (Intervento presentato al convegno 11th European Heterostructure Technology Workshop (HETECH 2001) tenutosi a Padova (Italia) nel 28-30 Oct. 2001).

Comprehensive experimental and numerical assessment of hot electron reliability of power HFETs

MENOZZI, Roberto;SOZZI, Giovanna;
2001-01-01

2001
Comprehensive experimental and numerical assessment of hot electron reliability of power HFETs / Menozzi, Roberto; Sozzi, Giovanna; G., Verzellesi; M., Borgarino; C., Canali; C., Lanzieri. - (2001), pp. 59-62. (Intervento presentato al convegno 11th European Heterostructure Technology Workshop (HETECH 2001) tenutosi a Padova (Italia) nel 28-30 Oct. 2001).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/2300677
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact