Numerical investigation of high-field degradation of power HFETs / R. Menozzi; G. Sozzi. - (2001). ((Intervento presentato al convegno IEEE Topical Workshop on Power Amplifiers for Wireless Communications tenutosi a San Diego, CA (USA) nel 10-11 Sep. 2001.

Numerical investigation of high-field degradation of power HFETs

MENOZZI, Roberto;SOZZI, Giovanna
2001

Numerical investigation of high-field degradation of power HFETs / R. Menozzi; G. Sozzi. - (2001). ((Intervento presentato al convegno IEEE Topical Workshop on Power Amplifiers for Wireless Communications tenutosi a San Diego, CA (USA) nel 10-11 Sep. 2001.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11381/2300674
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact