Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs / A., M., G., V., A. F., B., C., C., Sozzi, G., Menozzi, R.. - (2002), pp. 389-392. (Gallium Arsenide & Related III-V Compounds Application Symp. (GAAS 2002) Milano (Italia) 23-24 Sep. 2002).
Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto
2002-01-01
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