Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs / A., Mazzanti; G., Verzellesi; A. F., Basile; C., Canali; Sozzi, Giovanna; Menozzi, Roberto. - (2002), pp. 389-392. (Intervento presentato al convegno Gallium Arsenide & Related III-V Compounds Application Symp. (GAAS 2002) tenutosi a Milano (Italia) nel 23-24 Sep. 2002).
Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto
2002-01-01
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