Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs / A. Mazzanti; G. Verzellesi; A. F. Basile; C. Canali; G. Sozzi; R. Menozzi. - (2002), pp. 389-392. ((Intervento presentato al convegno Gallium Arsenide & Related III-V Compounds Application Symp. (GAAS 2002) tenutosi a Milano (Italia) nel 23-24 Sep. 2002.

Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs

SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto
2002

Measurements and simulation of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs / A. Mazzanti; G. Verzellesi; A. F. Basile; C. Canali; G. Sozzi; R. Menozzi. - (2002), pp. 389-392. ((Intervento presentato al convegno Gallium Arsenide & Related III-V Compounds Application Symp. (GAAS 2002) tenutosi a Milano (Italia) nel 23-24 Sep. 2002.
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