Numerical analysis of hot-electron degradation modes in AlGaAs/GaAs power HFETs / A., Mazzanti; G., Verzellesi; C., Canali; Sozzi, Giovanna; Menozzi, Roberto. - (2002). (Intervento presentato al convegno 13th Workshop on Physical Simulation of Semiconductor Devices tenutosi a Ilkley, West Yorks, UK nel 25-26 March 2002).
Numerical analysis of hot-electron degradation modes in AlGaAs/GaAs power HFETs
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto
2002-01-01
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