Numerical analysis of hot-electron degradation modes in AlGaAs/GaAs power HFETs / A., M., G., V., C., C., Sozzi, G., Menozzi, R.. - (2002). (13th Workshop on Physical Simulation of Semiconductor Devices Ilkley, West Yorks, UK 25-26 March 2002).
Numerical analysis of hot-electron degradation modes in AlGaAs/GaAs power HFETs
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto
2002-01-01
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