Investigation of the charge state of the DX centre through analysis of electron mobility data in AlGaAs / Ghezzi, Carlo; Parisini, Antonella. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 8:(1993), pp. 472-476.
Investigation of the charge state of the DX centre through analysis of electron mobility data in AlGaAs
GHEZZI, Carlo;PARISINI, Antonella
1993-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.