Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs / SOZZI G.; D. DIECI; R. MENOZZI; C. LANZIERI; T. TOMASI; C. CANALI. - (1999), pp. 139-144. ((Intervento presentato al convegno GAAS 99.

Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs

SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
1999

0862131421
Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs / SOZZI G.; D. DIECI; R. MENOZZI; C. LANZIERI; T. TOMASI; C. CANALI. - (1999), pp. 139-144. ((Intervento presentato al convegno GAAS 99.
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