Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs / Sozzi, Giovanna; D., Dieci; Menozzi, Roberto; C., Lanzieri; T., Tomasi; C., Canali. - (1999), pp. 139-144. (Intervento presentato al convegno GAAS 99).
Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs
SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
1999-01-01
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