Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs / Sozzi, Giovanna; D., Dieci; Menozzi, Roberto; C., Lanzieri; T., Tomasi; C., Canali. - (1999), pp. 139-144. (Intervento presentato al convegno GAAS 99).

Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs

SOZZI, Giovanna;MENOZZI, Roberto;
1999-01-01

1999
0862131421
Experimental and numerical study of the hot electron degradation of power AlGaAs/GaAs HFETs / Sozzi, Giovanna; D., Dieci; Menozzi, Roberto; C., Lanzieri; T., Tomasi; C., Canali. - (1999), pp. 139-144. (Intervento presentato al convegno GAAS 99).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1462386
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact