Study of the lattice strain relaxation in the AlxGa1-xSb /GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction / C., Bocchi; F., Germini; S., Franchi; Baraldi, Andrea; S., Gennari; Magnanini, Renato; A. V., Drigo. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. - ISSN 0022-2461. - 10:(1999), pp. 185-190.
Study of the lattice strain relaxation in the AlxGa1-xSb /GaSb system by X-ray topography and high resolution diffraction
BARALDI, Andrea;MAGNANINI, Renato;
1999-01-01
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