Measurement of aluminum concentration in the Ga1-xAlxSb/GaSb epitaxial system / Bocchi, C., Franchi, S., Germini, F., Baraldi, A., Magnanini, R., DE SALVADOR, D., Berti, M., Drigo, A.V.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 86:(1999), pp. 1298-1305.
Measurement of aluminum concentration in the Ga1-xAlxSb/GaSb epitaxial system
BARALDI, Andrea;MAGNANINI, Renato;
1999-01-01
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