Caratterizzazione del degrado da elettroni caldi di HEMT su InP / Borgarino, M.; Cattani, L.; Cova, P.; Menozzi, R.. - (1998), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno XXX Convegno Nazionale Gruppo Elettronica (GE'98) tenutosi a Punta Ala (GR), Italy nel Jun. 15-17, 1998).
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