Caratterizzazione del degrado da elettroni caldi di HEMT su InP / Borgarino, M., Cattani, L., Cova, P., Menozzi, R.. - (1998), pp. 1-1. (XXX Convegno Nazionale Gruppo Elettronica (GE'98) Punta Ala (GR), Italy Jun. 15-17, 1998).
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