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Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition / S. B., Anooz; J., Schwarzkopf; R., Dirsyte; E., Agocs; P., Petrik; A., Kwasniewski; G., Wagner; Fornari, Roberto. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 519:(2011), pp. 3782-3788. [10.1016/j.tsf.2010.12.242]

Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition

FORNARI, Roberto
2011-01-01
2011
Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition / S. B., Anooz; J., Schwarzkopf; R., Dirsyte; E., Agocs; P., Petrik; A., Kwasniewski; G., Wagner; Fornari, Roberto. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 519:(2011), pp. 3782-3788. [10.1016/j.tsf.2010.12.242]
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