Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition / S. B., A., J., S., R., D., E., A., P., P., A., K., G., W., Fornari, R.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 519:(2011), pp. 3782-3788. [10.1016/j.tsf.2010.12.242]
Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition
FORNARI, Roberto
2011-01-01
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