Time-of-flight Neutron-diffraction Investigation of Temperature Factors In the Zn Blende Semiconductor Inp / C., Ferrari; C., Bocchi; O., Moze; C. C., Wilson; Fornari, Roberto. - In: PHYSICA. B, CONDENSED MATTER. - ISSN 0921-4526. - 180:(1992), pp. 627-628. [10.1016/0921-4526(92)90415-O]
Time-of-flight Neutron-diffraction Investigation of Temperature Factors In the Zn Blende Semiconductor Inp
FORNARI, Roberto
1992-01-01
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