Properties of thermally annealed undoped and sulphur doped InP wafers / Fornari, Roberto; J. L., Weyher; S., Krawczyk; F., Nuban; C., Corbel; M., Tornqvist. - In: MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0267-0836. - 11:(1995), pp. 1223-1228.
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