CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishAperture uncertainty measurements are strongly influenced by quantization, converter nonlinearity and test setup noise. An original method is here proposed which completely solves the difficulties arising from quantization and nonlinearity. The method estimates the noise distribution function by finely varying the input signal offset. The applicability of the method is proved by the experimental results obtained on 8 and 10 bit converters
| Titolo: | A new method for estimating the aperture uncertainty of A/D converters | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 1997 | |
| Abstract: | Aperture uncertainty measurements are strongly influenced by quantization, converter nonlinearity and test setup noise. An original method is here proposed which completely solves the difficulties arising from quantization and nonlinearity. The method estimates the noise distribution function by finely varying the input signal offset. The applicability of the method is proved by the experimental results obtained on 8 and 10 bit converters | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11381/2434848 | |
| ISBN: | 0780337476 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1b Atto convegno Volume |
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http://hdl.handle.net/11381/2434848
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