Study of bit error and thermal characterization of a Successive Approximation A/D converter / G., F., D., D., Chiorboli, G., P., M.. - (1995), pp. 640-643. (IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC95 Boston, Massachusetts April 24-26 1995).
Study of bit error and thermal characterization of a Successive Approximation A/D converter
CHIORBOLI, Giovanni;
1995-01-01
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