Reliability of GaN-based HEMT devices / Menozzi, Roberto. - (2008), pp. 44-50. (Intervento presentato al convegno Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices (COMMAD’08) tenutosi a Sydney, NSW, Australia nel 28 luglio - 1 agosto 2008).

Reliability of GaN-based HEMT devices

MENOZZI, Roberto
2008-01-01

2008
9781424427178
Reliability of GaN-based HEMT devices / Menozzi, Roberto. - (2008), pp. 44-50. (Intervento presentato al convegno Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices (COMMAD’08) tenutosi a Sydney, NSW, Australia nel 28 luglio - 1 agosto 2008).
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