Determination of the thermal diffuse scattering in a silicon crystal by means of the Mossbauer effect / Ghezzi, Carlo; A., Merlini; S., Pace. - In: NUOVO CIMENTO. A. - ISSN 0369-3546. - 64 B:(1969), pp. 103-116.
Determination of the thermal diffuse scattering in a silicon crystal by means of the Mossbauer effect
GHEZZI, Carlo;
1969-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.