X-ray observation of induced dislocations at simple planar structures in silicon / A., Cerutti; Ghezzi, Carlo. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - (a) 17:(1973), pp. 237-245.

X-ray observation of induced dislocations at simple planar structures in silicon

GHEZZI, Carlo
1973-01-01

1973
X-ray observation of induced dislocations at simple planar structures in silicon / A., Cerutti; Ghezzi, Carlo. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - (a) 17:(1973), pp. 237-245.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11381/1877320
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact