Measurement of the source and drain resistances of AlGaN/GaN HEMTs and their temperature dependence / Menozzi, Roberto; G. A., UMANA MEMBRENO; B. D., Nener; G., Parish; L., Faraone; U., Mishra. - (2007), pp. 229-232. (Intervento presentato al convegno 31st Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits (WOCSDICE 2007) tenutosi a Venezia nel 20-23 Maggio 2007).
Measurement of the source and drain resistances of AlGaN/GaN HEMTs and their temperature dependence
MENOZZI, Roberto;
2007-01-01
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