Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons / Canali, C; Cova, Paolo; DE BORTOLI, E; Fantini, F; Meneghesso, G; Menozzi, Roberto; Zanoni, E.. - 95CH3471-0:(1995), pp. 205-210. (Intervento presentato al convegno International Reliability Physics Symposium (IRPS’95) tenutosi a Las Vegas, Nevada (USA) nel Apr. 4-6, 1995).

Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons

COVA, Paolo;MENOZZI, Roberto;
1995-01-01

1995
Enhancement and degradation of drain current in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs HEMT’s induced by hot-electrons / Canali, C; Cova, Paolo; DE BORTOLI, E; Fantini, F; Meneghesso, G; Menozzi, Roberto; Zanoni, E.. - 95CH3471-0:(1995), pp. 205-210. (Intervento presentato al convegno International Reliability Physics Symposium (IRPS’95) tenutosi a Las Vegas, Nevada (USA) nel Apr. 4-6, 1995).
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